Mikroskopische Möglichkeiten des BZR-Instituts


Zumeist sind erste Voruntersuchungen im kombinierten Auflicht- / Durchlicht Mikroskop erforderlich. Hier mit dem Binokular Stereo Zoom MSZ 251-12 der Fa. ATP


Die Untersuchung von Asbest mit dem Axioscope 20 Zeiss ist sowohl für Luftmessungen (BGI 505/31 Europäische Methode) als auch für Materialuntersuchungen geeignet.

 

Das Rasterelektronenmikroskop wird klassisch für Asbest- Untersuchungen von Materialproben ( VDI 3866 Bl. 5) als auch für Untersuchungen von Kontaktproben auf Asbest (VDI 3877), für die Untersuchungen von Luftproben auf Asbest (VDI 3492) eingesetzt.


 

 

Die hohe Auflösung gestattet präzise tiefenscharfe Darstellungen auch bei hohen Vergrößerungen.


 

 

An jeder Stelle des Bildareales ist eine Elementverteilungsanalyse (energiedispersive Röntgenmikroanalyse) möglich und gibt einen ersten Aufschluss über die Zusammensetzung

 

 

Zwei weitere Rasterelektronen-mikroskope jeweils mit integrierter Röntgenmikroanalyse am Leichtelementdetektor ( Jeol T 200 oben; Leitz / Amray 1600 unten) sowie zwei Sputter Coater sichern unsere vollständige Unabhängigkeit und die permanente und zügige Einsatzbereitschaft für die Untersuchung von Asbest

 

 

Speziell für die aufwendigen Untersuchungen von asbest-haltigen Gesteinen (TRGS 517) die z.B. als Füller- oder Gesteinskörnung in den Trag- und Deckschichten des Straßenbaus Verwendung fanden und beim Fräsen zu splitterförmigen Gefahrstoffen werden benötigen eine hochauflösende Elektronenmikroskopie

 

 

 

Wie vor, am Beispiel Sepiolith und Chrysotil dargestellt, können die Befunde aus den Röntgenmikroanalysen, auch nach den geltenden Konventionen, nicht immer sicher interpretiert werden. Da in solchen Fällen für eine Röntgendiffraktometrie zu wenig Substanz vorliegt kann nur eine Phasenanalyse mit dem FTIR-Mikroskop (hier Spotlight 200, gekoppelt an Spektrum 100 der Fa. Perkin-Elmer) für die notwendige analytische Sicherheit sorgen.


 

 

Es eignen sich zur Phasenbestimmung auch die Beugungs-diagramme (Laue-Diagramme) durch Strahlkippung bei der Transmissionselektronenmikroskopie (hier : EM 9 A S2 Zeiss). Da es sich hierbei nicht um Routineapplikationen handelt sind solche Untersuchungen nur für Ausnahmen und/oder Forschungszwecken vorbehalten.